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Grenoble INP
Annuaires
Tél. : +33 (0)4 56 52 93 00
Fax : +33 (0)4 56 52 93 01
Annuaires

MME CHAIX Odette

CHAIX O.jpg
Chargée de Recherche CNRS

Coordonnées

LMGP Grenoble INP – MINATEC 3 parvis Louis Néel, CS 50257 38016 GRENOBLE Cedex 1

  • Fax : + 33 (0)4 56 52 93 01

Site internet : http://

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Activités / CV

 

  • Joined CNRS in 1982. Doctorat d'Etat in Physical Sciences in 1986 at the Laboratoire de Recherche sur la Réactivité des Solides, Bourgogne University, and at Institut Laue-Langevin, Grenoble (Study of prereactional transformations in calcium hydroxide crystals during a thermal treatment leading to dehydration).
  • 1988: SATMA (PECHINEY company) at Goncelin, Isère (Study of the structure and properties of barrier-type alumina layers).
  • 1989-1992: Laboratoire de Géologie Alpine (Joseph Fourier University, Grenoble). Research activities related to new dating processes in natural materials and physico-chemical characterization of irradiation-induced defects.
  • Since 1993: Laboratoire des Matériaux et du Génie Physique (UMR 5628, Grenoble INP). Research activities focused on the use of Raman spectroscopy and X-ray diffraction for structural studies in bulk and thin films in the field of materials for silicon-based electronic devices,  multifunctional and nanostructured oxide-based materials, wide band gap semiconductors.

Past and current topics of research

  • Single crystal vibrational analysis
  • Spectroscopic and structural analysis of oxide thin films
  • Chemical reactivity of transition metal thin films deposited on Si and SiGe - Transition metal silicides
  • Microstructure - strain analysis in thin films
  • Structural phase transitions

Representative publications

- High temperature solution growth and characterization of Cr2AlC single crystals
T. Ouisse, E. Sarigiannidou, O. Chaix-Pluchery, H. Roussel, B. Doisneau, D. Chaussende, J. Crystal Growth 384 (2013) 88.

- In-situ Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of the structural transformations leading to the SrCu2O2 phase from strontium-copper oxide thin films deposited by MOCVD
A. Khan, C. Jiménez, O. Chaix-Pluchery, H. Roussel, J.L. Deschanvres, Thin Solid Films 541 (2013) 136.

- Vibrational properties of SrCu2O2 studied via DFT calculations and compared to Raman and infrared spectroscopy measurements
J. Even, L. Pedesseau, O. Durand, M. Modreanu, G. Huyberechts, B. Servet, O. Chaix-Pluchery, Thin Solid Films 541 (2013) 113.

- Strain analysis of multiferroic BiFeO3-CoFe2O4 nanostructures by Raman scattering
O. Chaix-Pluchery, C. Cochard, P.Jadhav, J. Kreisel, N. Dix, F. Sanchez, J. Fontcuberta, Appl. Phys. Lett. 99 (2011) 072901.

- Raman scattering of perovskite SmScO3 and NdScO3 single crystals
O. Chaix-Pluchery, J. Kreisel, Phase Transitions 84 (2011) 542.

- Temperature-dependent Raman scattering of DyScO3 and GdScO3 single crystals
O. Chaix-Pluchery, D. Sauer, J. Kreisel, J. Phys.: Condens. Matter 22 (2010) 165901.

- Residual stress estimation in ferroelectric PbTiO3 thin films by Raman spectroscopy
A. Bartasyte, S. Margueron, J. Kreisel, P. Bourson, O. Chaix-Pluchery, L. Rapenne-Homand, J. Santiso, C. Jimenez, A. Abrutis, F. Weiss, M.D. Fontana, Phys. Rev. B 79 (2009) 104104.

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Rédigé par Odette Chaix

mise à jour le 14 mars 2017

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