Formation XRD - 4-7 Avril 2016

Un mélange de théorie, de pratique et de tutoriels pour la caractérisation des couches minces par rayons X
    • au

Un mélange de théorie, de pratique et de tutoriels sur l'utilisation de : i) la réflectométrie X pour obtenir des informations sur l'épaisseur, la rugosité et la densité des films; ii) la diffraction en incidence rasante pour déterminer la microstructure, les contraintes et la nature des phases.
Organisé sur une base annuelle, en collaboration avec l'INSTN.
Les inscriptions sont ouvertes

Infos date
Du 04/04 au 07/04/2016